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如何使用鍍層測(cè)厚儀測(cè)量鍍層厚度

瀏覽次數(shù):495 更新日期:2024-01-08

摘要:

在工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量控制中,精確測(cè)量鍍層厚度至關(guān)重要。鍍層測(cè)厚儀作為一種高精度的測(cè)量工具,能準(zhǔn)確快速地測(cè)量各種材料表面上的涂層厚度。以下是使用鍍層測(cè)厚儀測(cè)量鍍層厚度的基本步驟:一、準(zhǔn)備工作在開始測(cè)量之前,需要先準(zhǔn)備好鍍層測(cè)厚儀,確保電池充足,儀器狀態(tài)良好。同時(shí),需要了解待測(cè)鍍層的材質(zhì)、涂層類型以及基材的....

在工業(yè)生產(chǎn)和質(zhì)量控制中,精確測(cè)量鍍層厚度至關(guān)重要。鍍層測(cè)厚儀作為一種高精度的測(cè)量工具,能準(zhǔn)確快速地測(cè)量各種材料表面上的涂層厚度。以下是使用鍍層測(cè)厚儀測(cè)量鍍層厚度的基本步驟:

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一、多種測(cè)量鍍層厚度的方式

1. 磁感應(yīng)法測(cè)量鍍層厚度

利用測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁的覆層而流入鐵磁性金屬基體的磁通量的大小來(lái)確定鍍層的厚度。適合測(cè)量鋼鐵等鐵磁性金屬基體上的非磁性金屬鍍層,如涂料、清漆、搪瓷、塑料、橡膠覆層,鍍鉻、鍍鋅、鍍鎘、鍍銅層等有色金屬電鍍層以及各種防腐涂層。

2. 電渦流測(cè)厚法鍍層測(cè)厚儀

通過(guò)高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng),測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí),就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體越近,則渦流愈大,反射阻抗能力越大。這個(gè)反饋?zhàn)饔帽碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小,也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。

3. 其他鍍層厚度測(cè)量方式

除了上述的磁性和渦流測(cè)厚法,還有楔切法,光學(xué)法(如輪廓尺寸測(cè)量法,雙光束顯微鏡法),電解法(如陽(yáng)極溶解庫(kù)倫法)、金相法、化學(xué)法(點(diǎn)滴法,溶解稱重法,計(jì)時(shí)液流法),機(jī)械法(如稱重法,厚度差測(cè)量法),X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法等多種鍍層厚度測(cè)量方式。其中電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測(cè)厚時(shí)采用。X射線和β射線法也屬于無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量,測(cè)量范圍較小,X射線法可測(cè)極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號(hào)大于3的鍍層測(cè)量。


二、YT8500鍍層測(cè)厚儀測(cè)量鍍層厚度

一、準(zhǔn)備工作


在開始測(cè)量之前,需要先準(zhǔn)備好鍍層測(cè)厚儀,確保電池充足,儀器狀態(tài)良好。同時(shí),需要了解待測(cè)鍍層的材質(zhì)、涂層類型以及基材的導(dǎo)電性能等基本信息。


二、校準(zhǔn)儀器


為保證測(cè)量精度,需先對(duì)鍍層測(cè)厚儀進(jìn)行校準(zhǔn)。根據(jù)不同的測(cè)量原理,可能需要選擇不同的校準(zhǔn)方法。例如,對(duì)于磁感應(yīng)法測(cè)厚,需要使用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行校準(zhǔn);而對(duì)于電渦流測(cè)厚,則可以使用已知涂層厚度的標(biāo)準(zhǔn)試樣進(jìn)行校準(zhǔn)。


三、設(shè)置參數(shù)


根據(jù)已知的涂層類型和基材的導(dǎo)電性能等信息,設(shè)置鍍層測(cè)厚儀的相關(guān)參數(shù)。這些參數(shù)包括涂層的導(dǎo)磁率、電導(dǎo)率等,以確保測(cè)量的準(zhǔn)確性。


四、測(cè)量鍍層厚度


在開始測(cè)量時(shí),將測(cè)頭接觸到涂層表面,保持測(cè)頭與涂層表面平行。慢慢移動(dòng)測(cè)頭,使測(cè)頭與涂層表面完全接觸,此時(shí)儀器會(huì)顯示出涂層的厚度。為保證測(cè)量的準(zhǔn)確性,建議在同一位置進(jìn)行多次測(cè)量,并取平均值。


五、數(shù)據(jù)處理與報(bào)告


測(cè)量完成后,需要對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理和記錄。對(duì)于不同的涂層類型和基材,需要建立相應(yīng)的數(shù)據(jù)庫(kù),以便快速對(duì)比和處理數(shù)據(jù)。根據(jù)實(shí)際需求,可以生成相應(yīng)的報(bào)告,例如涂層厚度分布圖、合格率等。


在實(shí)際應(yīng)用中,除了磁感應(yīng)法和電渦流法外,還有多種測(cè)量鍍層厚度的方法。例如,X射線熒光法可以用于測(cè)量金屬和非金屬基材上的涂層厚度;β射線反向散射法可以用于測(cè)量薄膜厚度;以及利用原子力顯微鏡(AFM)和掃描隧道顯微鏡(STM)等高精度儀器進(jìn)行微觀尺度的涂層厚度測(cè)量。


使用鍍層測(cè)厚儀測(cè)量鍍層厚度是一個(gè)相對(duì)簡(jiǎn)單的過(guò)程,但要獲得準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果,需要具備一定的操作技巧和經(jīng)驗(yàn)。在實(shí)際應(yīng)用中,應(yīng)根據(jù)具體情況選擇合適的測(cè)量方法和儀器,并嚴(yán)格按照操作步驟進(jìn)行測(cè)量。同時(shí),為保證測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性,建議定期對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)和維護(hù)。

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三、鍍層測(cè)厚儀介紹



產(chǎn)品型號(hào)YT8500
產(chǎn)品名稱專業(yè)版分體兩用涂層測(cè)厚儀
特性
YT系列涂層測(cè)厚儀是3nh公司制造的完全擁有自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)的國(guó)產(chǎn)涂層測(cè)厚儀,能快速、精準(zhǔn)的無(wú)損檢測(cè)各種涂覆在金屬基底上的涂層厚度。儀器完全符合ISO 2178、ISO 2360、GB/T 4956、GB/T 4957、ASTM B499等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的磁性法和渦流法測(cè)試原理。
儀器測(cè)量精準(zhǔn)、測(cè)試量程大、多種校正模式、多種測(cè)量模式、定位方便、功能強(qiáng)大,廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)等表面工程檢測(cè)領(lǐng)域,是涂層表面處理行業(yè)的基本裝備。
Fe基探頭可檢測(cè)噴涂在各種磁性基體(比如鋼鐵)上的各種非磁性涂層厚度,例如鐵板的油漆層、噴粉層、涂瓷層、鍍鉻層、鍍銅層、鍍鋅層等。
NFe基探頭檢測(cè)噴涂在非磁性金屬基底(比如鋁、銅、黃銅、不銹鋼等)上所有絕緣涂層厚度,例如油漆層、噴粉層、涂瓷層等。
符合標(biāo)準(zhǔn)ASTM B499,ASTM D1400,ASTM D709;
ISO 2178,ISO 2360,ISO 2808;
GB/T 4956,JB/T 8393
基體模式鐵基/非鐵基
探頭形式分體式
定位結(jié)構(gòu)/
分辨率0.1μm
測(cè)量范圍0~5000μm
測(cè)量精度零點(diǎn)校正:±(3%H+1)μm;
兩點(diǎn)校正:±(1~3%H+1.5)μm;
注:H為樣品厚度
顯示屏IPS全彩屏, 1.14inch
接口Type C USB;藍(lán)牙5.0;按鍵
存儲(chǔ)數(shù)據(jù)3500條,通過(guò)手機(jī)APP可擴(kuò)展海量存儲(chǔ)
電池電量鋰電池,充滿電單次可連續(xù)測(cè)試10000
測(cè)量模式基礎(chǔ)模式、品管模式、連續(xù)模式、統(tǒng)計(jì)模式
最小測(cè)量尺寸磁性:10×10mm;
非磁性:10×10mm
最小測(cè)量厚度磁性:0.2mm;
非磁性:0.05mm
最小曲率凸面半徑5mm;凹面半徑10mm
顯示單位μm/mil
尺寸102×50×20mm(探頭?18x69)
重量80g
工作溫度0~40oC(10~90%RH無(wú)凝露)
儲(chǔ)存溫度?-10~50oC
軟件支持微信小程序,鴻蒙,Windows,Andriod,IOS
標(biāo)準(zhǔn)附件基體2塊(鐵基體,鋁基體),腕帶,擦拭布,USB數(shù)據(jù)線,定位片,校準(zhǔn)片
可選附件打印機(jī),5V-2A電源適配器
注:校準(zhǔn)片一套5片(厚度略有差異),技術(shù)參數(shù)僅為參考,以實(shí)際銷售產(chǎn)品為準(zhǔn)